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멈춰야만 보이던 표면 — 컬러 다중화 스트로빙이 포토메트릭 스테레오의 정지 조건을 깨는 방법
방향이 다른 조명을 순차로 켜야 했던 포토메트릭 스테레오가 컬러 다중화 스트로빙으로 노출 2회까지 줄었습니다. 확산 반사면의 표면 법선 복원 조건, 두 노출 사이 허용 변위 산출, CAD 좌표 등록까지 현장 기준으로 정리합니다.
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광량이 모자랄 때 노출을 늘리면 되는가 — SPAD 센서와 타임 게이팅이 다시 쓰는 저조도 검사 설계
노출과 게인으로는 해결되지 않는 저조도 검사의 한계를, 광자를 세는 SPAD 센서와 프로그래머블 타임 게이팅으로 다시 설계하는 방법. 매칭표와 현장 체크포인트 포함.
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AOI는 “불량”이라고만 말한다 — 비전 언어 모델이 메꾸는 판정 근거의 공백
AOI는 이상 여부만 출력합니다. 비전 언어 모델 결함 분류가 판정 근거를 언어로 산출하는 구조와, 증거 선택 정책이 요구하는 광학 셋업 조건을 매칭표로 정리했습니다.
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가시광에서 사라지는 결함이 있다 — SWIR 이미징이 1 μm 장벽을 넘은 뒤의 검사 설계
가시광에서 콘트라스트가 만들어지지 않는 결함은 파장을 바꿔야 보입니다. SWIR 이미징의 원리와 Cu-Cu 접합이 연 픽셀 피치의 변화, 그리고 조명 균일도가 검출 하한을 정의하는 구조를 매칭표로 정리했습니다.
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위상측정 편향법(PMD)으로 고광택 사출품의 20 μm 함몰을 잡아내는 법 — 편광 융합이 메꾸는 마지막 구멍
정반사면의 얕은 함몰은 확산 조명으로는 콘트라스트가 생기지 않습니다. 위상측정 편향법이 기울기를 측정량으로 바꾸는 원리와, 편광 융합이 메꾸는 구속조건의 공백을 매칭표로 정리했습니다.
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μm 단차가 사라지는 지점: 색채 공초점(Chromatic Confocal) 2채널 컨트롤러로 양면 두께를 동시에 잡는 법
2D 카메라로는 보이지 않는 μm 단위 코팅 두께 편차를 색채 공초점 2채널 컨트롤러로 양면 동시 측정하는 원리와 측정 셋업, 현장 체크포인트를 정리합니다.
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카메라 인터페이스 대역폭이 분해능을 결정한다 — GigE Vision에서 CoaXPress 2.0으로
12 MP 카메라 여러 대를 쓰는 PCB 검사에서 GigE Vision 대역폭이 분해능과 fps를 깎는 구조와 CoaXPress 2.0 전환 기준을 계산으로 정리합니다.
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Few-Shot 이상탐지(Few-Shot Anomaly Detection): 결함 샘플 5장으로 검사 라인을 세울 수 있는가
불량 샘플이 5장뿐인 양산 초기 라인에서 Few-Shot 이상탐지로 검사를 세울 수 있는지 검토합니다. 프로토타입 정제, 합성 결함, 광학 조건 고정의 역할을 정리합니다.
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리퀴드 렌즈 오토포커스, 다품종 소량 생산 라인의 초점 문제를 푸는 법
부품 높이가 0.3~1.2 mm로 뒤섞이는 다품종 소량 라인에서 리퀴드 렌즈 오토포커스로 초점 문제를 푸는 법. 재초점 시간, DOF, WD 확보 조건을 다룹니다.
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이벤트 카메라(뉴로모픽 비전)로 잡아내는 초고속 미세 결함 — 프레임이 놓치는 순간을 본다
프레임 카메라의 셔터 사이로 지나가는 초고속 진동·미세 결함을 이벤트 카메라(뉴로모픽 비전)로 기록하는 방법과 시간 창·필터링 설계 기준을 정리합니다.
