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Few-Shot 이상탐지(Few-Shot Anomaly Detection): 결함 샘플 5장으로 검사 라인을 세울 수 있는가
새 라인을 세울 때마다 반복되는 질문이 있습니다. “불량 샘플을 몇 장이나 모아야 검사 모델을 돌릴 수 있는가.” 사출품이든 PCB든, 양산 초기에는 정상품은 수천 장 확보되지만 불량품은 손에 꼽습니다. 이 불균형을 방치하면 검사 라인은…
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리퀴드 렌즈 오토포커스, 다품종 소량 생산 라인의 초점 문제를 푸는 법
같은 검사존을 통과하는 부품인데도 로트가 바뀔 때마다 초점이 미묘하게 어긋나는 경험, 낯설지 않으실 겁니다. PCB 실장 라인에서 부품 높이가 0.3~1.2mm 범위로 뒤섞이거나, 사출품 검사에서 게이트 커팅 위치에 따라 표면 높이가 로트별로 수백 µm씩…
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이벤트 카메라(뉴로모픽 비전)로 잡아내는 초고속 미세 결함 — 프레임이 놓치는 순간을 본다
고속 조립 라인에서 흔들리는 커넥터 핀, 순간적으로 튕기는 솔더 볼, 진동으로 미세하게 어긋나는 정렬 상태 — 이런 순간들은 일반 프레임 기반 카메라의 셔터가 닫혀 있는 사이에 지나가 버립니다. 프레임레이트를 아무리 올려도 결국 이산적인…
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2D 콘트라스트로는 안 보이는 것: 3D 구조광 검사가 솔더 조인트 높이를 재는 법
같은 리플로우 라인을 통과한 두 개의 커넥터 리드가 2D 이미지에서는 색상도 밝기도 거의 동일하게 보이는 경우가 있습니다. 하나는 패드에 정상적으로 안착해 있고, 다른 하나는 리드가 살짝 들뜬(lifted lead) 상태인데도, 2D 카메라가 보는 것은…
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엣지 AI 추론에 INT8 양자화를 적용하기 전에 반드시 확인해야 할 것: 미세 결함이 조용히 사라지는 이유
PCB 커넥터 검사 라인에서 미세 스크래치 검출 모델을 클라우드 서버에서 엣지 스마트카메라로 옮기는 작업은 대부분 순조롭게 끝납니다. 전체 검증 데이터셋에 대한 mAP(평균 정밀도)는 양자화 전후로 1~2%p 차이밖에 나지 않고, 추론 속도는 수 배…
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정반사와 무광이 한 화면에 있을 때: HDR 멀티 노출 융합으로 콘트라스트를 되살리는 법
같은 카메라 시야(FOV) 안에 니켈 도금 커넥터 핀과 무광 레지스트 인쇄면이 함께 들어오는 검사 스테이션에서, 노출값을 커넥터에 맞추면 레지스트 인쇄 결함이 어두운 영역에 묻혀 사라지고, 반대로 레지스트에 맞추면 커넥터 핀의 정반사가 하얗게 포화되어…
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감지시간 65% 단축, 오경보 80% 감소: 엣지 화재감지 AI의 두 숫자를 읽는 법
지하주차장 전기차 화재 조기감지 모델이 엣지 디바이스에서 실시간 구동된다는 소식을 머신비전 관점에서 뜯어봅니다. 두 성능 수치 중 현장에서 더 무거운 쪽은 오경보율입니다.
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정반사가 결함을 지운다: 교차 편광(Cross-Polarization)으로 고반사 표면의 미검출을 잡는 법
무광 사출 하우징 옆에 니켈 도금 커넥터 핀이 나란히 놓인 검사 스테이션에서, 같은 조명 조건으로 두 재질을 한 번에 잡으려 하면 십중팔구 커넥터 쪽에서 문제가 생깁니다. 도금 표면의 정반사가 카메라 노출을 포화시키면서 그…
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왜곡 보정과 피사계 심도(DOF)의 줄다리기: 텔레센트릭 렌즈로 미세 결함을 놓치지 않는 법
검사 렌즈의 배율을 한 단계 높이면, 그동안 카메라에 잡히지 않던 미세 크랙이나 솔더 브릿지가 비로소 선명해집니다. 그런데 같은 라인에서 부품 하나의 높이가 0.3 mm만 달라져도 그 결함이 다시 흐려진다면, 문제는 렌즈의 분해능이 아니라…
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소프트웨어 정의 조명(Software-Defined Lighting): 하나의 헤드로 암시야와 동축낙사를 오가는 검사 셋업
검사 라인에서 카메라 앞에 물체 하나가 지나갈 때마다, 그 표면은 단 하나의 재질로 이루어져 있지 않은 경우가 많습니다. 같은 부품 안에서도 무광 몰딩부와 니켈 도금 단자부가 함께 있는 사출품, 혹은 솔더 마스크와 노출된…
